成果信息

高端CMOS图像传感器测试系统瞄准科学级CMOS传感器产业化自动测试需求，以长光所多年积累的成像系统测试技术为基础，结合光子传递理论开展参数测试方法研究，解决的关键技术包括：宽波段的量子效率测试技术；CMOS奈奎斯特频率下MTF的高精度测试技术；微米级高精度位移控制技术；长工作距显微光学成像技术。测试系统能够全面、客观、高效地完成科学级CMOS传感器性能评价，极大地提高生产效率，促进该领域的发展。同时，测试系统可以作为成型设备供给CMOS图像传感器应用公司用于完成一致性筛选和测试。)

背景介绍

随着物联网技术的发展，照明系统的智能化成为目前研究的热点之一，传统的光照传感器由于其固有属性无法满足智能照明精确检测和测量范围的要求，开发了一种快速准确的照度及照度分布检测系统，能够达到智能照明系统精准化照明控制的要求，是实现舒适性和节能性照明的前提。当今的CMOS图像转换技术不仅服务于“传统的”工业图像处理，而且还凭借其卓越的性能和灵活性而被日益广泛的新颖消费应用所接纳。此外，它还能确保汽车驾驶时的高安全性和舒适性。最初，CMOS图像传感器被应用于工业图像处理；在那些旨在提高生产率、质量和生产工艺经济性的全新自动化解决方案中，它至今仍然是至关重要的一环。)

应用前景

现阶段，国内尚无高精度、全自动化、通用性科学级图像传感器参数测试的成型产品；国际上几大图像传感器制造商均采用本公司自研的测试系统完成测试，在参数覆盖符合EMVA1288-3.0标准的条件下，同指标的测试方法则不尽相同，而且该部分均作为各厂家的核心技术严格保密，该成果市场前景广阔。)